變壓器直流電阻測(cè)試儀接線(xiàn)方式使用方法

6.1試驗(yàn)接線(xiàn)：

被試變壓器通過(guò)儀器專(zhuān)用測(cè)試線(xiàn)與儀器接線(xiàn)柱連接可靠，同時(shí)儀器通過(guò)接地線(xiàn)可靠接地。

A、單相法測(cè)量接線(xiàn)。見(jiàn)圖6.1。

圖6.1  直接測(cè)量接線(xiàn)方法

B、助磁法測(cè)量接線(xiàn)。見(jiàn)圖6.2～6.4（適用于YN-d-11聯(lián)結(jié)組別）。

                                                                                                    圖6.2  測(cè)量低壓Rac的接線(xiàn)方法

圖6.3  測(cè)量低壓Rba的接線(xiàn)方法

圖6.4  測(cè)量低壓Rcb的接線(xiàn)方法

6.2直阻測(cè)試

當(dāng)儀器按要求接好測(cè)試線(xiàn)，打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)，液晶顯示主菜單，如下圖所示：

在主菜單界面下，按<F1>鍵進(jìn)入變壓器直流電阻試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置界面，液晶顯示如下圖所示：

在變壓器直流電阻試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置界面，按<選擇>、<F2>鍵選擇修改選項(xiàng)，按<修改>、<F3>鍵修改某位數(shù)據(jù)；

其中：被試?yán)@組—可選擇高壓、中壓、低壓等3種被試?yán)@組。

 測(cè)試相別—是指將要測(cè)試的相別；

預(yù)置A-O/B-O/C-O/A-B/B-C/C-A/a-o/b-o/c-o/a-b/b-c/c-a。

分接檔位—可選擇1～17檔分接。

繞組材質(zhì)—可選擇銅、鋁等2種繞組材質(zhì)。

測(cè)試溫度—當(dāng)前試品測(cè)試的溫度。

折算溫度—標(biāo)準(zhǔn)需要折算的溫度。

試驗(yàn)電流—可選擇10A、5A、1A、100mA、10mA、1mA等6檔試驗(yàn)電流。

試品編號(hào)—是指用于區(qū)分不同被測(cè)試品的編號(hào)，以便于在歷史記錄中查詢(xún)和技術(shù)管理。

當(dāng)參數(shù)修改為滿(mǎn)足試驗(yàn)需要時(shí)，按<確定>鍵進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，液晶顯示如下提示：

在測(cè)試過(guò)程中，可按<修改>或<F3>鍵進(jìn)行當(dāng)前分接位置的修改，獲得變壓器當(dāng)前分接位置下對(duì)應(yīng)的直流電阻值，以便于技術(shù)管理。

當(dāng)測(cè)試完成后，長(zhǎng)按<打印>或<存儲(chǔ)>鍵進(jìn)行試驗(yàn)數(shù)據(jù)的打印或存儲(chǔ)；不進(jìn)行任何操作可直接按<復(fù)位>鍵，并等待放電完畢后返回至變壓器直流電阻試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置界面。

6.3歷史記錄

在主菜單下按<F2>鍵進(jìn)入歷史記錄界面，液晶顯示如下圖所示：

在歷史記錄界面，按<選擇>、<修改>鍵來(lái)選擇要查詢(xún)的歷史記錄。

在歷史記錄界面，按<確定>鍵可在試驗(yàn)參數(shù)和試驗(yàn)數(shù)據(jù)之間切換顯示。

在歷史記錄界面，長(zhǎng)按<打印>鍵1s以上，可將歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入微型打印機(jī)進(jìn)行打印。

在歷史記錄界面，長(zhǎng)按<存儲(chǔ)>鍵1s以上，可將歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入優(yōu)盤(pán)進(jìn)行存儲(chǔ)。

在歷史記錄界面，同時(shí)按下<選擇>和<確定>鍵，可以刪除全部歷史數(shù)據(jù)。

 6.4日期時(shí)間設(shè)置

在主菜單下按<F3>鍵進(jìn)入日期時(shí)間設(shè)置界面，液晶顯示如下圖所示：

在日期時(shí)間設(shè)置界面下，按<選擇>、<F2>鍵選擇相應(yīng)設(shè)置位，按<修改>、<F3>鍵修改相應(yīng)設(shè)置位的數(shù)據(jù)。修改為需要的日期和時(shí)間后，按下<確定>鍵，保存相應(yīng)設(shè)置并返回主菜單。

6.5儀器校準(zhǔn)設(shè)置

在主菜單下按<F4>鍵進(jìn)入儀器校準(zhǔn)界面。本儀器出廠(chǎng)前已進(jìn)行校準(zhǔn)，用戶(hù)無(wú)需操作。